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请介绍一下MCU的测试方法

 MCU从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法,其中主要会有两种:中测和成测。

所谓中测即是WAFER的测试,它会包含产品的功能验证及ACDC的测试。项目相当繁多,以HOLTEK产品为例最主要的几项如下:

l  接续性测试:检测每一根I/OPIN内接的保护用二极管是否功能无误。

l  功能测试:以产品设计者所提供测试资料(TEST PATTERN)灌入IC,检查其结果是否与当时SIMULATION时状态一样。

l  STANDBY电流测试:测量IC处于HALT模式时即每一个接点(PAD)10态或Z态保持不变时的漏电流是否符合最低之规格。

l  耗电测试:整颗IC的静态耗电与动态耗电。

l  输入电压测试:测量每个输入接脚的输入电压反应特性。

l  输出电压测试:测量每个输出接脚的输出电压位准。

l  相关频率特性(AC)测试,也是通过外灌一定频率,从I/O口来看输出是否与之匹配。

l  为了保证IC生产的长期且稳定品质,还会做产品的可靠性测试,这些测试包括ESD测试,LATCH UP测试,温度循环测试,高温贮存测试,湿度贮存测试等。

    成测则是产品封装好后的测试,即PACKAGE测试。即是所有通过中测的产品封装后的测试,方法主要是机台自动测试,但测试项目仍与WAFER TEST相同。PACKAGE TEST的目的是在确定IC在封装过程中是否有任何损坏。

 

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